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      硅晶電池片反射率儀

      光纖光譜儀,積分球,均勻光源,太赫茲系統應用專家
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      R9000硅晶電池片反射率儀
      太陽能領域全自動兩維掃描反射率儀

      通過反射率測量進行絨化控制
      通過顏色和厚度測量進行減反射膜控制

      硅晶電池片反射率儀

       

      產品特點:

      • 膜層反射率、膜厚和顏色的離線測量
        用于研發,生產過程對鍍膜工藝的質量控制
        設計人性化
        精確,重復性好
        性價比高
        具有全部知識產權,定制設計平臺好
        檢測速度快,檢測工序簡單

       

      開機無需預熱;測試同一塊樣品,節約工人時間50%以上;

      連續測試樣品,節約工人時間80%以上。

       

      R9000系列設計精度更高,樣品更加貼近積分球,測量的反射率更加準確。

      硅晶電池片反射率儀

      小提示:按照國際上通行的光譜測量標準(CIE),漫反射樣品的反射率測量需要使用積分球。因此,要獲得電池片絨面反射率的準確數據,需要使用積分球。積分球在使用中要求樣品盡量貼近開口。樣品離積分球開口越近,積分球收集到的光越多,反射率測量越準確。

      高性價比和售后服務

      同樣價格更多實用配置和功能。
      每臺儀器都選用高質量零件,零件全檢,系統出場前必須全部通過測試。
      廠家隨同儀器提供完整的技術資料和軟件。
      免費培訓用戶技術人員2人,并進行操作演示、技術咨詢及數據處理等培訓。
      維修響應時間:賣方接到買方的維修通知后24-48小時迅速響應。
      免費質保期內賣方負責所有因設備質量問題而產生的費用。
      質保期后的服務后,提供終身維護服務,只按廠價收取所換的成本費,不收維護費。
      國內設有物流中心,免去了購買進口產品不可避免的維修周期長的弊病和高關稅。
      自主研發,具有更大的自主改進和開行性,對不同的客戶要求可以積極有效的響應。

       

      R9000-2DMA自動圖譜(Mapping)功能

      -單塊片子反射率并不均勻,傳統反射率儀器只能測試某一點,多點測試靠人工移動,數據沒有可比性。

      -R9000 提供全自動多點掃描功能,讓您更準確了解自己的產品情況

      硅晶電池片反射率儀

       

      R9000-2DMA應用

      電池片(Cell/module) 減反工藝,優化及監控包括:
      酸制絨工藝; 堿制絨工藝; SiNx 減反膜工藝; 復合減反膜工藝
      EVA封裝工藝; TiO2減反膜工藝; SiO2鈍化工藝; 光伏(絨面)玻璃封裝工藝

      裸片和鍍膜片測量裸片和鍍膜片測量:
      兩維掃描(Mapping)
      快速,操作方便
      積分式、非接觸

      測量參數:
      單點反射率
      兩維掃描反射率
      電池片不均勻度
      膜厚
      色度(顏色)

      產品組件:
      兩維全自動反射率儀R9000-2DMA
      標準白參考瓦
      標準鏡面反射體
      控制軟件Morpho-R9MA
      膜厚及色度分析軟件
      燈泡

      用于檢測所有相關硅片類型:
      單晶硅片(拋光、粗糙、絨化)
      多晶硅片(拋光、粗糙、絨化)
      硅片尺寸:125x125 / 156x156 mm

       

      反射率范圍 0~100%
      波長范圍 360~1050nm / 250~1100nm
      膜厚范圍 (SiNx) 25~120nm
      膜厚范圍 (SiO2) 35~160nm
      反射率精度 0.10%
      反射率重復性 +/-0.2 %
      膜厚精度 5 nm
      顏色測量 Lab / XYZ / xyz
      測量光斑直徑 6 mm
      測量速度 2秒/點
      測量模式 積分球

       

      現場使用情況

      硅晶電池片反射率儀


      玻色智能科技有限公司光譜儀專家
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